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                                                                                              您當前的位置:首頁 > 產品展示 > 無人機遙感與光譜 > 高光譜成像 > SpectraScan© SWIR-LWIRSpectraScan SWIR-LWIR高光譜成像分析系統
                                                                                              SpectraScan SWIR-LWIR高光譜成像分析系統
                                                                                              更新時間:2022-07-07
                                                                                              訪問次數:3425
                                                                                              AISAOWL長波紅外高光譜成像監測系統的設計目的是為遙感市場提供*臺LWIR高光譜成像儀,該成像儀結構緊湊,可以安裝在小型飛機上,甚至在無人機上,無需特別的專業技術就可以操作和維護。
                                                                                              品牌SPECIM/芬蘭成像方式推掃式
                                                                                              價格區間面議使用狀態地面
                                                                                              工作原理推掃型應用領域食品/農產品,農林牧漁,地礦,制藥/生物制藥,綜合

                                                                                              SpectraScan© SWIR-LWIR地礦勘查高光譜成像分析系統,是易科泰光譜成像與無人機遙感技術研究中心,基于SpectraScan©光譜成像掃描平臺技術,集成Specim SWIR、LWIR高光譜成像傳感器,最新推出的一站式地礦勘查高光譜成像解決方案。

                                                                                              該系統結構緊湊、兼容性高,無需特別的專業背景即可操作和維護,成像單元光譜范圍覆蓋1000-2500nm短波紅外及8-12μm長波紅外波段,極大滿足地質、礦產、工業、安全等應用領域及地質地球科學、環境監測研究領域的特殊需求,為商業公司和學術研究用戶提供了一種完整、即時可用的低成本、高效益解決方案。

                                                                                              QQ截圖20220701111951.png

                                                                                              SpectraScan© SWIR-LWIR系統;右圖為巖礦樣品表面的蝕變區域(紅色)分布

                                                                                              主要特點:

                                                                                              ?  一站式巖礦樣芯成像分析平臺,標配SWIR、LWIR高光譜成像,可選配VISIR、NIR波段

                                                                                              ?  SpectraScan©高精度移動掃描平臺,樣品在精準位移平臺上自動運送至成像單元進行成像分析

                                                                                              ?  雙軌式同步升降控制,根據樣品尺寸靈活調整成像距離,獲取*分辨率數據

                                                                                              ?  可對大型巖礦樣芯、礦物粉末、樣品盒整體進行成像檢測分析

                                                                                              ?  觸摸屏控制,嵌入式操作系統,全中文地面站軟件,可無線操控平臺運行

                                                                                              ?  支持組合命令(Protocols),可實現自動運行protocols

                                                                                              ?  主機系統帶腳輪,方便移動,適應于實驗室和工業礦廠等工作環境

                                                                                              ?  可選配高分辨率RGB成像、紅外熱成像分析

                                                                                              ?  可選配SpectraScan© 360°旋轉掃描平臺,適用于野外礦坑、峭壁、山體掃描成像

                                                                                              主要參數指標:

                                                                                              成像單元

                                                                                              SWIR

                                                                                              LWIR

                                                                                              波段范圍

                                                                                              1000-2500nm

                                                                                              8-12μm

                                                                                              光譜波段數

                                                                                              288

                                                                                              44

                                                                                              光譜分辨率

                                                                                              10nm

                                                                                              400nm

                                                                                              光譜采樣

                                                                                              5.6nm

                                                                                              100nm

                                                                                              空間像素

                                                                                              384

                                                                                              566

                                                                                              視場角

                                                                                              34°、23°、17°、9°可選

                                                                                              32.2°

                                                                                              探測器

                                                                                              Stirling,25000h MTTF

                                                                                              LWIR非制冷微輻射探測器

                                                                                              數值孔徑

                                                                                              F/2.0

                                                                                              F/1.0

                                                                                              輸出接口

                                                                                              16 bit CL

                                                                                              USB 3

                                                                                              幀頻

                                                                                              450fps

                                                                                              120fps

                                                                                              信噪比

                                                                                              1050:1

                                                                                              NETD(噪聲等效溫差):1k

                                                                                              相機重量

                                                                                              14kg

                                                                                              3.5kg

                                                                                              應用案例1高硫化型淺成低溫熱液系統中的巖石樣品的高光譜表征

                                                                                              石英在高硫化型淺成低溫熱液系統中是非常常見的,其主要用于硅化和晚期泥質帶的鑒定。然而,僅用SWIR范圍的數據很難檢測石英,因為這種非氫氧化物礦物在SWIR范圍內沒有吸收特征。特文特大學地球信息科學與地球觀測學院Abera M G等學者,結合SWIRLWIR高光譜數據對西班牙東南部Rodalquilar高硫化型淺成低溫熱液系統的巖石樣品進行了表征。

                                                                                              QQ截圖20220701115052.jpg

                                                                                              本研究使用了來自Rodalquilar淺成低溫熱液系統的56個巖石樣品的SWIRLWIR波段高光譜圖像來表征巖石中的礦物。研究人員對高光譜數據進行反射率、發射率轉換、濾波及變換等多種預處理,并通過分析兩種數據,反映與淺成低溫熱液系統相關的礦物,如石英、鉀長石、輝石、鈣長石、方解石和白云石,以及SWIR波段敏感礦物,包括明礬石、黃鉀鐵礬、高嶺石、埃洛石和綠脫石。隨后,研究人員將獨立的 SWIR LWIR 結果相結合,用于巖石樣品中礦物的精準識別和繪圖。

                                                                                              QQ截圖20220701115115.jpg

                                                                                              根據SWIR-LWIR結合分析結果,該巖石樣品被劃分為蝕變帶,將巖石樣品的蝕變帶與現有礦物圖進行比較發現,在該樣品中存在硅酸鹽、頁硅酸鹽、硫酸鹽和碳酸鹽礦物。還分析得出了 Rodalquilar 高硫化型淺成低溫熱液系統中硅化和晚期泥質帶的精細分布并繪制礦物圖。該方法為礦石礦化研究提供了指引,并改進了西班牙東南部 Rodalquilar 低溫熱液系統現有的蝕變帶圖。

                                                                                              QQ截圖20220701115144.jpg

                                                                                              該研究表明,結合了SWIR波段和LWIR波段的高光譜成像技術,可輕松用于識別巖石樣品中的蝕變和未蝕變礦物,并可用于定位高硫化型淺成低溫熱液系統的硅質和高級泥質帶。本研究確定的蝕變帶有助于研究人員對淺成低溫熱液系統的進一步理解,及對高硫化型淺成低溫熱液系統蝕變帶的劃定和表征的探索。

                                                                                              應用案例2:金礦床地質填圖的礦物學-地球化學標準

                                                                                              位于俄羅斯東部哈巴羅夫斯基地區的Levoberezhnoye礦床,集中分布于中性火山巖中,嵌于流紋巖和廣泛蝕變的湖流凝灰巖及熔結凝灰巖中,并形成陡傾石英-冰長石 金-銀 角礫巖-礦脈體系。這些含礦的蝕變火山巖伴隨著石英-冰長石-硫化物膠結物和細硫化物互相浸染,經歷了多次熱液角礫巖化作用,使得礦脈和巖石粒度細小,難以直觀識別礦物。

                                                                                              Polymetal公司工程科學與冶金學博士Ilya Anisimov等人使用SWIRLWIR波段高光譜相機對該礦床樣品進行紅外高光譜圖像掃描。并根據礦物的光譜特征,對樣品圖像進行主成分分析和回歸分析。區分了石英(Qu);針鐵礦(Cth);長石,包括正長石(Ort)、微斜長石;粘土礦物,包括高嶺石(Kaol)、地開石(Dk)、蒙脫石(Mnt)、伊利石(Ilt)、白云母。


                                                                                              QQ截圖20220701115312.jpg

                                                                                              輻射光譜分析表明,在鉆孔巖心樣品和拋光樣品中均發現了和輝鉬礦品位接近的礦物,呈暗塊狀和片狀。它被磷灰石所腐蝕(見下圖),表面有白蠟石和軟屑巖。該蝕變輝鉬礦呈褐色,具有類似石墨的暗淡金屬光澤,在礦床中廣泛分布。粗精礦中鉬的回收率在40%左右。

                                                                                              QQ截圖20220701115323.jpg

                                                                                              研究發現,氰化尾渣中金的損失與硫化物含量密切相關,硫化物氧化為黃鉀鐵礬和臭蔥石,樣品中的紅色成分增加,表明金回收率提高。而綠泥石的缺失和白云母向伊利石、伊利-蒙脫石的轉化也表明金氰化回收率提高。樣品中金的實驗回收率和預測模型回收率之間的相關系數R2=0.46,有較強相關性。


                                                                                              QQ截圖20220701115339.jpg

                                                                                              研究表明,利用高光譜樣芯掃描成像技術,可對鉆孔樣芯進行海量地質填圖,快速、無損識別和解釋地球化學定義的礦石和巖性類型,且可以實現針對不同的礦化類型進行礦物勘探。

                                                                                               

                                                                                              參考文獻:

                                                                                              [1] Abera M G , Hecker C A , Bakker W . Characterization of Rock Samples Using SWIR-LWIR Hyperspectral Imaging Techniques – An Example of The High Sulfidation Epithermal System of Rodalquilar, Southeast Spain. 2019.

                                                                                              [2] Anisimov I, Sagitova A, Kharitonova M , et al. Mineralogical-Geochemical Criteria for Geometallurgical Mapping of Levoberezhnoye Au Deposit (Khabarovsk Region, Russia)[M]. 2019.


                                                                                              留言框

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